i-MeP
Entwicklung eines Messsystems und einer standardisierten Messmethodik zur besseren Vorhersagbarkeit der Bedruckbarkeit und Verklebbarkeit von Papier und Karton
Art des Projektes | Zentrales Innovationsprogramm Mittelstand (ZIM) der AiF Projekt GmbH |
Projektform | Kooperationsprojekt (KF) |
Laufzeit | 01.04.2015 – 31.12.2017 |
Projektpartner | emtec Electronic GmbH, Leipzig |
Forschungsstellen | Technische Universität Dresden Hochschule für Technik, Wirtschaft und Kultur Leipzig |
Projektbeschreibung
Ziel des Projektes ist die Entwicklung einer neuartigen Messtechnologie für die Charakterisierung von Papier- und Kartonwerkstoffen, welche die Prinzipien der ultraschallbasierten Penetrationsdynamikmessung (Porenstruktur, Oberflächenhydrophobie) und optischen Mottlinganalyse (Faserverteilung) kombiniert. Mit dieser Messanordnung soll eine reproduzierbare multimodale Erfassung der penetrationsbestimmenden Substrateigenschaften möglich werden. Für deren Bewertung wird zudem eine neue, standardisierbare Prüfmethodik verfolgt, die ihrerseits erstmals eine belastbare Vorhersage der aus den Messverläufen substratspezifisch zu erwartenden Verarbeitungsvoraussetzungen in Druck-, Beschichtungs- und Klebprozessen ermöglicht.